Im Rasterelektronenmikroskop wird ein fein fokussierter Elektronenstrahl bestimmter Energie über die Oberfläche einer Probe gerastert, was zu einer Reihe von Wechselwirkungen mit der Probe führt.
Mittels Rasterelektronenmikroskopie erzeugen wir für Sie Abbildungen von Objektoberflächen mit einer hohen Schärfentiefe.
Die Elektronen werden entweder thermisch aus Wolfram- oder
Lanthanhexaboridkathoden erzeugt und gegen eine Anode beschleunigt oder
durch Feldemission, also Anlegen eines hohen elektrischen Feldes aus
einer Kathode gelöst.
Mögliche Wechselwirkungen der Elektronen mit der Oberfläche sind z. B. die Emission von Sekundärelektronen, das Auftreten von rückgestreuten Elektronen oder die Emission von Röntgenstrahlen. Durch Detektieren der erzeugten Spezies kann ein Abbild der Oberfläche erhalten werden (Elektronen) oder eine Information über die chemische Zusammensetzung der oberflächennahen Bereiche gewonnen werden (Röntgenstrahlen).
Aufnahme einer porösen Oberfläche mit dem Rasterelektronenmikroskop
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Durch Anwendung des sogenannten Anaglyphenverfahrens können wir auch 3D-REM-Bilder beeindruckender Tiefenschärfe darstellen. Zum Betrachten des Beispiels benötigen Sie eine Rot-Grün-Stereobrille (rot: rechtes Auge).
Durch unsere vielfältigen Analysemethoden und unser exzellent ausgestattetes Labor finden wir auf jede Ihrer Fragen eine Antwort. Folgende Methoden stehen zur Verfügung:
Je nach Fragestellung setzen wir folgende weiteren Analysemethoden ein: Atomabsoptionsspektroskopie Infrarot-Kamera, Ulbrichtkugel, Gaschromatographie, Abzugstest und Salzsprühtest.
